- Код статьи
- S30345642S0032816225010086-1
- DOI
- 10.7868/S3034564225010086
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том / Номер выпуска 1
- Страницы
- 56-63
- Аннотация
- Сообщается о результатах применения флуоресцентного экрана из алюмооксидной керамики Chromox для измерения распределения плотности тока в поперечном сечении интенсивного импульсного электронного пучка низкой энергии. Были исследованы свойства экрана с напылением золота разной толщины: 30 и 300 нм. Покрытие толщиной 30 нм обладает хорошей проводимостью и при этом достаточной прозрачностью (около 5%) для излучения флуоресценции, что позволяет визуализировать двумерную картину распределения тока пучка с хорошим пространственным разрешением. Однако такое покрытие демонстрирует ограниченную устойчивость к воздействию пучка с током не менее 1.5 А (более 0.6 А/см2), энергией 15 кэВ, длительностью 1 мс. Покрытие толщиной 300 нм обладает значительно большей устойчивостью, но не прозрачно для излучения флуоресценции, поэтому изображение регистрировалось на просвет пластины сиинтиллятора. Такой подход позволяет получить изображение отпечатка пучка, однако с несколько худшим пространственным разрешением.
- Ключевые слова
- флуоресцентный экран Chromox электронный пучок диагностика пучка золотое напыление
- Дата публикации
- 17.02.2026
- Год выхода
- 2026
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 24
Библиография
- 1. Loewenhoff T., HiraiT., Keusemann S. et al. // J. Nucl. Mater. 2011. V. 415. № 1. Р. S51. http://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2010.08.065
- 2. Vyacheslavov L., Arakcheev A., Burdakov A. et al. // AIP Conf. Proc. 2016. V. 1771. № 1. 060004. https://doi.org/10.1063/1.4964212
- 3. Куркучеков В.В., Абед Н., Иванов А.В., Кандауров И.В., Никифоров Д.А. // ВАНТ. Сер. Термоядерный синтез. 2024. Т. 47. № 2. С. 73.
- 4. Schuch R.L., Kelly J.G. // Rev. Sci. Instrum. 1972. V. 43. № 8. P. 1097. https://doi.org/10.1063/1.1685854
- 5. Forck P. arXiv preprint arXiv:2009.10411. 2020. https://doi.org/10.48550/arXiv.2009.10411
- 6. Kurkuchekov V., Kandaurov I., Trunev Y. // J. Instrum. 2018. V. 13. № 5. P05003. http://doi.org/10.1088/1748-0221/13/05/P05003
- 7. Silva T.F., Bonini A.L., Lima R.R. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2012. V. 83. № 9. https://doi.org/10.1063/1.4748519
- 8. Астрелин В.Т., Бурдаков А.В., Заболотский А.Ю. и др. // ПТЭ. 2004. № 2. С. 66. https://doi.org/10.1023/B:INET.0000025201.89969.ae
- 9. Ischebeck R., Prat E., Thominet V., Loch C.O. // Phys. Rev. ST Accel. Beams. 2015. V. 18. № 8. 082802. http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.18.082802
- 10. McCarthy K.J., Baciero A., Zurro B. et al. // J. Appl. Phys. 2002. V. 92. № 11. P. 6541. https://doi.org/10.1063/1.1518133
- 11. Bal C., Bravin E., Lefèvre T. et al. // Proceedings of DIPAC 2005. Lyon, France. 2005. P. 57. № CERN-AB-2005-067.
- 12. Forck P., Andre C., Becker F. et al. // Proceedings of DIPAC2011, Hamburg, Germany, MOPD53. P. 170.
- 13. Good J., Kube G., Leuschner N. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2013. V. 425. № 12. 122012. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/425/12/122012
- 14. Lumpkin A.H., Yang B.X., Berg W.J. et al. // Nucl. Instrum. Methods. Phys. Res. A. 1999. V. 429. № 1–3. P. 336. https://doi.org/10.1016/S0168-9002 (99)00075-3
- 15. Описание камеры. http://www.sptt.ru/sptt/catalog.php?l
- 16. Berg W., Ko K. // AIP Conf. Proc. 1992. V. 281. № 1. P. 279. https://doi.org/10.1063/1.44348
- 17. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Карпушов Е.Н. // ЖТФ. 2004. Т. 74. № 11. С. 102.
- 18. Axelevitch A., Gorenstein B., Golan G. // Physics Procedia. 2012. V. 32. P. 1. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2012.03.510
- 19. Goldstein J., Newbury D., Michael J. et al. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. New York: Springer, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9
- 20. Renuka K., Ensinger W., Andre C., Beeker F., Forck P., Haseitl R., Reiter A., Walasek-Hohne B. // BIW2012 Proceedings. Newport, VA, USA. TUPG022. 2012. P. 183.
- 21. Berger M.J. ESTAR, PSTAR, and ASTAR: Computer programs for calculating stopping-power and range tables for electrons, protons, and helium ions. NIST. US Department of Commerce. 1992.
- 22. Hubbell J.H., Seltzer S.M. X-Ray Mass Attenuation Coefficients. NIST, US Department of Commerce, 1995. https://dx.doi.org/10.18434/T4D01F
