Везде

ОФНПриборы и техника эксперимента Instruments and Experimental Techniques

  • ISSN (Print) 0032-8162
  • ISSN (Online) 3034-5642

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ПОЛЯ ТЕРАГЕРЦЕВЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНОВ В ВОЗДУХ

Вы можете
Код статьи
S30345642S0032816225010115-1
DOI
10.7868/S3034564225010115
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Кукотенко В. Д.
  • Аффилиация:
    Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук
    Новосибирский государственный университет
Герасимов В. В.
  • Аффилиация:
    Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук
    Новосибирский государственный университет
Лемзяков А. Г.
  • Аффилиация:
    Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук
    Центр коллективного пользования “Сибирский кольцевой источник фотонов” Института катализа им. Г. К. Борескова Сибирского отделения Российской академии наук
Никитин А. К.
  • Аффилиация: Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук
Том/ Выпуск
Том / Номер выпуска 1
Страницы
81-91
Аннотация
Предложены и апробированы два метода измерения глубины проникновения поля поверхностных плазмон-поляритонов (ППП) с использованием квазимонохроматического терагерцевого излучения новосибирского лазера на свободных электронах (λ = 141 мкм): зондовый метод с модуляцией излучения обтюратором или модуляцией дифрагирующей доли поля ППП колебаниями внедренного в него зонда и метод экранирования, регистрирующего интенсивность ППП, прошедших под металлическим экраном. В обоих методах для уменьшения доли паразитных засветок от объемных волн предлагается использовать излом поверхности образца или элементы преобразования (излучения в ППП и обратно) цилиндрической формы. Результаты экспериментов по оценке глубины проникновения поля ППП в воздух обоими методами согласуются между собой. Выявлены достоинства и недостатки этих методов, а также условия их применения при работе с образцами, содержащими и не содержащими диэлектрическое покрытие.
Ключевые слова
терагерцевое излучение поверхностные плазмон-поляритоны глубина проникновения поля зондовый метод метод экранирования
Дата публикации
17.02.2026
Год выхода
2026
Всего подписок
0
Всего просмотров
29

Библиография

  1. 1. Zhang H.C., Zhang L.P., He P.H., Xu J., Qian C., Garcia-Vidal F.J., Cui T.J. // Light Sci. Appl. 2020. V. 9. P. 113. https://doi.org/10.1038/s41377-020-00355-y
  2. 2. Berger C.E.H., Kooyman R.P.H., Greve J. // Rev. Sci. Instrum. 1994. V. 65. P. 2829. https://doi.org/10.1063/1.1144623
  3. 3. Maier S.A. Plasmonics: Fundamentals and Applications. New York: Springer, 2007.
  4. 4. Mynbaev D.K., Sukharenko V. // Proc. ICCDCS-2014. IEEE. 2014. P. 1. https://doi.org/10.1109/ICCDCS.2014.7016180
  5. 5. Pang X., Ozolins O., Jia S. et al. // J. Lightwave Technol. 2022. V. 40. P. 3149. https://doi.org/10.1109/JLT.2022.3153139
  6. 6. Pechprasarn S., Somekh M.G. // J. Microsc. 2012. V. 246. P. 287. https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.2012.03617.x
  7. 7. Sengupta K., Nagatsuma T., Mittleman D.M. // Nat. Electron. 2018. V. 1. P. 622. https://doi.org/10.1038/s41928-018-0173-2
  8. 8. Sorger V.J., Oulton R.F., Ma R.-M., Zhang X. // MRS Bulletin. 2012. V. 37. P. 728. https://doi.org/10.1557/mrs.2012.170
  9. 9. Gerasimov V.V., Nikitin A.K., Lemzyakov A.G., Azarov I.A., Kotelnikov I.A. // Appl. Sci. 2023. V. 13. P. 7898. https://doi.org/10.3390/app13137898
  10. 10. Zhang X., Xu Q., Xia L., Li Y., Gu J., Tian Z., Ouyang C., Han J., Zhang W. // Adv. Photon. 2020. V. 2. P. 1. https://doi.org/10.1117/1.AP.2.1.014001
  11. 11. Ordal M.A., Long L.L., Bell R.J., Bell S.E., Bell R.R., Alexander R.W., Ward C.A. // Appl. Opt. 1983. V. 22. P. 1099. https://doi.org/10.1364/AO.22.001099
  12. 12. Pandey S., Liu S., Gupta B., Nahata // Photon. Res. 2013. V. 1. P. 148. https://doi.org/10.1364/PRJ.1.000148
  13. 13. Gerasimov V.V., Nikitin A.K., Lemzyakov A.G., Azarov I.A., Kotelnikov I.A. // Appl. Sci. 2023. V. 13. P. 7898. https://doi.org/10.3390/app13137898
  14. 14. Gerasimov V.V., Knyazev B.A., Nikitin A.K., Zhizhin G.N. // Appl. Phys. Lett. 2011. V. 98. 171912. https://doi.org/10.1063/1.3584130
  15. 15. Auston D.H., Cheung K.P. // J. Opt. Soc. Am. B. 1985. V. 2. P. 606. https://doi.org/10.1364/JOSAB.2.000606
  16. 16. Zhou D., Parrott E.P.J., Paul D.J., Zeitler J.A. // J. Appl. Phys. 2008. 104. 053110. https://doi.org/10.1063/1.2970161
  17. 17. Han P.Y., Tani M., Usami M., Kono S., Kersting R., Zhang X.-C. // J. Appl. Phys. 2001. V. 89. P. 2357. https://doi.org/10.1063/1.1343522
  18. 18. Isaac T.H., Barnes W.L., Hendry E. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93. 241115. https://doi.org/10.1063/1.3049350
  19. 19. Nazarov M.M., Shkurinov A.P., Garet F., Coutaz J.-L. // IEEE Trans. THz Sci. Technol. 2015. V. 5. P. 680. https://doi.org/10.1109/TTHZ.2015.2443562
  20. 20. Nikitin A.K., Khitrov O.V., Gerasimov V.V., Khasanov I.S., Ryzhova T.A. // J. Phys.: Conf. Ser. 2019. V. 1421. 012013. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1421/1/012013
  21. 21. Gerasimov V.V., Vanda V., Lemzyakov A., Ivanov A., Azarov I., Nikitin A. // SPIE: Beijing, China, November 26. 2023. P. 11. https://doi.org/10.1117/12.2687247
  22. 22. Gerasimov V.V., Nikitin A.K., Lemzyakov A.G. // Instrum. Exp. Tech. 2023. V. 66. P. 423. https://doi.org/10.1134/S0020441223030053
  23. 23. Mathar R.J. // J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2007. V. 9. P. 470. https://doi.org/10.1088/1464-4258/9/5/008
  24. 24. Gerasimov V.V., Knyazev B.A., Lemzyakov A.G., Nikitin A.K., Zhizhin G.N. // J. Opt. Soc. Am. B 2016. V. 33. P. 2196. https://doi.org/10.1364/JOSAB.33.002196
  25. 25. Jeon T.-I., Grischkowsky D. // App. Phys. Lett. 2006. V. 88. 061113. https://doi.org/10.1063/1.2171488
  26. 26. Gong M., Jeon T.-I., Grischkowsky D. // Opt. Express. 2009. V. 17. P. 17088. https://doi.org/10.1364/OE.17.017088
  27. 27. Герасимов В.В., Жижин Г.Н., Князев Б.А., Котельников И.А., Митина Н.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2013. T. 77. C. 1333. https://doi.org/10.7868/S0367676513090147
  28. 28. Shevchenko O.A., Vinokurov N.A., Arbuzov V.S., Chernov K.N., Davidyuk I.V., Deichuly O.I., Demen­tyev E.N., Dovzhenko B.A., Getmanov Ya.V., Gorbachev Ya.I., Knyazev B.A., Kolobanov E.I., Kondakov A.A., Kozak V.R., Kozyrev E.V. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2019. V. 83. P. 228.
  29. 29. Koteles E.S., McNeill W.H. // Int. J. Infrared Milli Waves. 1981. V. 2. P. 361. https://doi.org/10.1007/BF01007040
  30. 30. Knyazev B.A., Gerasimov V.V., Nikitin A.K., Azarov I.A., Choporova Yu.Yu. // J. Opt. Soc. Am. B. 2019. V. 36. P. 1684. https://doi.org/10.1364/JOSAB.36.001684
  31. 31. https://www.tydexoptics.com/ru/
  32. 32. Gerasimov V.V., Nikitin A.K., Lemzyakov A.G., Azarov I.A. // Photonics. 2023. V. 10. P. 917. https://doi.org/10.3390/photonics10080917
  33. 33. Knyazev B.A., Cherkassky V.S., Choporova Y.Yu., Gerasimov V.V., Vlasenko M.G., Dem’yanenko M.A., Esaev D.G. // J. Infrared Milli. Terahz. Waves. 2011. V. 32. P. 1207. https://doi.org/10.1007/s10762-011-9773-x
  34. 34. Palik E.D. Handbook of Optical Constants of Solids V. 1. Cambridge: Academic Press, 2016.
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека